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透明光学材料のキャラクタリゼーションのZ-Scan

- スペクトラ・フィジックス社Spitfire Pro XPとの連携用途設計
- 全パーツは連携動作用に選択され、試験されております
- 薄い光学材料キャラクタリゼーション

製品番号

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製品番号
備考
標準納期
税抜価格
Z-Scan Kit, Characterization of Transparent Optical Materials, Metric
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Z-Scan Kit, Characterization of Transparent Optical Materials
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